Laborator caracterizari fizico-chimice
Directii de cercetare si arii de interes abordate
- Cercetare-dezvoltare de noi materiale cu proprietati functionale pentru aplicatii specifice
- Metode avansate de caracterizare a nanomaterialelor cu aplicatii in biotehnologie
- Metode avansate de caracterizare a materialelor multifunctionale cu aplicatii in: senzori, dispozitive electromagnetice, energetica, semiconductori, etc.
- Investigarea fenomenelor de interfata la scara micro si nano pentru aplicatii in micro si optoelectronica
- Elaborarea de metode, metodologii, programe de testare pentru demonstrarea/verificarea caracteristicilor diferitelor tipuri de materiale compozite (metalice, ceramice, carbonice,etc.)
Servicii oferite
Studiul si caracterizarea morfo-structurala, fizico-mecanica si chimica a materialelor prin urmatoarele tehnici avansate:
- difractie de raze X in vederea identificarii fazelor cristaline pe materiale sub forma solida, pulberi sau filme subtiri, cu posibilitatea determinarii parametrilor celulei elementare (de exemplu variaţia acestora cu temperatura, a tensionarii retelei, sau datorita dopantilor) si a dimensiunii de cristalit, precum si urmaririi eventualelor modificari ale retelei cristaline in domeniul de temperatura: -1800C ÷ +10000C (in cazul materialelor sub forma de filme subtiri);
- microscopie electronica de baleiaj (SEM) care asigura vizualizarea si studiul structurilor microscopice si al suprafetelor diferitelor tipuri de materiale (anorganice, organice, conductive sau neconductive electric, magnetice, aflate sub forma compacta, de pulberi sau straturi subtiri);
- microscopie de forta atomica (AFM) care permite permite analiza 3D in domeniul nano si micrometric a topografiei suprafetelor si determinarea unor proprietati fizice locale cum ar fi: rezistenta electrica, curenti de scurgere, raspunsul piezoelectric, magnetizarea, elasticitatea. De asemenea se poate studia morfologia si evaluarea gradului de rugozitate a straturilor subtiri din materiale organice si anorganice depuse prin diverse metode.
- microscopie electronica cu tunelare (STM) care permite studierea proprietatilor suprafetelor de la nivel microscopic la nivel atomic, pe filme subtiri conductive
- microscopie electronică de înaltă rezoluție (HRTEM) care permite studiului proprietatilor si al structurii de retea pentru diferite tipuri de materiale (bulk, straturi subtiri, fire, pulberi-toate prelucrate corespunzator pina la nivelul de transparenta electronica), cu structura cristalina, amorfa sau nanocristalina.
- determinarea microduritatii Vickers si Knoop, si a duritatii Vickers si Brinell pe materiale solide metalice, ceramice, carbonice sau polimerice;
- fluorescenta de raze X (XRF) care permite efectuarea analizei chimice elementale calitative si cantitative in game diferite de concentratii si tipuri de probe (solide, pulberi sau lichide)
Infrastructura de caracterizare
